> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch Titel: Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis Beteiligte: Wilson, Robert G. [VerfasserIn]; Stevie, Fred A. [VerfasserIn]; Magee, Charles W. [VerfasserIn] Erschienen: New York [u.a.]: Wiley, 1989 Erschienen in: A Wiley-Interscience publication Umfang: Getr. Zählung; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0471519456 RVK-Notation: VG 9800 : Allgemeines UM 3120 : Molekülmassen, Massenspektren, Massenspektroskopie, Molekülmodellrechnung, LCAO-Methode Schlagwörter: Sekundärionen-Massenspektrometrie Sekundärionen-Massenspektrometrie Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben