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Bahukudumbi, Sudarshan [Verfasser:in]; Chakrabarty, Krishnendu [Verfasser:in]

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

Erschienen in: Artech House integrated microsystems series
Moreira, José [Verfasser:in]; Werkmann, Hubert [Verfasser:in]

An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

Erschienen in: Artech House microwave library
Lala, Parag K. [Verfasser:in]

Digital circuit testing and testability

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San Diego [u.a.]: Academic Press, c1997
Burns, Mark [Verfasser:in]; Roberts, Gordon W. [Verfasser:in]

An introduction to mixed signal IC test and measurement

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New York, NY [u.a.]: Oxford University Press, 2001

Erschienen in: Oxford series in electrical and computer engineering
Parker, Kenneth P. [Verfasser:in]

The boundary-scan handbook : analog and digital - [2. ed.]

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Boston [u.a.]: Kluwer, 1998
Parker, Kenneth P. [Verfasser:in]

The Boundary-Scan handbook

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Boston [u.a.]: Kluwer, 1992
Jha, Niraj K. [Verfasser:in]; Gupta, Sandeep [Verfasser:in]

Testing of digital systems

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Cambridge: Cambridge University Press, 2003
Wunderlich, Hans-Joachim [Verfasser:in]

Hochintegrierte Schaltungen : prüfgerechter Entwurf und Test ; mit 52 Tabellen

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1991
Wojtkowiak, Hans [Verfasser:in]

Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen ; mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen

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Stuttgart: B.G. Teubner, 1988

Erschienen in: Leitfäden und Monographien der Informatik
Heyman, Joseph S. [Herausgeber:in] ; Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop 1986 Hampton, Va

Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation

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Park Ridge, NJ: Noyes Data Corporation, 1988
Chang, Kai-hui [Verfasser:in]; Markov, Igor L. [Verfasser:in]; Bertacco, Valeria [Verfasser:in]

Functional design errors in digital circuits : diagnosis, correction and repair

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[Dordrecht [u.a.]]: Springer, 2009

Erschienen in: Lecture notes in electrical engineering ; 3200
Bushnell, Michael L. [Verfasser:in]; Agrawal, Vishwani D. [Verfasser:in]

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

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Boston, Mass.; London [u.a.]: Kluwer Academic, 2000

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 17
Zerbst, Manfred [Herausgeber:in]; Cuno, Hans-Hellmuth [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Meß- und Prüftechnik

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986

Erschienen in: Halbleiter-Elektronik ; 2000
Gizopoulos, Dimitris [Herausgeber:in]

Advances in electronic testing : challenges and methodologies

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Dordrecht: Springer, 2006

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 27
Carr, Joseph J. [Verfasser:in]

Practical radio frequency test and measurement : a technician's handbook

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Boston, Mass. [u.a.]: Newnes, 1999
Hurst, Stanley L. [Verfasser:in]

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques

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London: Institution of Electrical Engineers, 1998

Erschienen in: Institution of Electrical Engineers: IEE circuits and systems series ; 900
Auer, Adolf [Verfasser:in]; Kimmelmann, Ralf [Verfasser:in]

Schaltungstest mit Boundary Scan

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Heidelberg: Hüthig, 1996
Jarmolik, Vjačeslav N. [Verfasser:in]; Jarmolik, Vjačeslav Nikolaevič [Verfasser:in]; Kachan, I. V. [Verfasser:in] ; Kačan, I. V. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Self-testing VLSI design

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Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1993
Graf, Steffen [Verfasser:in]; Gössel, Michael [Verfasser:in]

Fehlererkennungsschaltungen : mit ... 33 Tab.

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München [u.a.]: Oldenbourg, 1987

Erschienen in: Grundlagen der Schaltungstechnik
Weyerer, Manfred [Verfasser:in]; Goldemund, Gerald [Verfasser:in]

Prüfbarkeit elektronischer Schaltungen : Grundlagen, Verknüpfungen und Anwendung von CAD und CAT : mit 128 Abbildungen und 20 Tabellen

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München; Wien: Hanser, 1988

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