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  8. Weissel, Ralph [VerfasserIn] ; Müller, Jörg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Paul, Reinhold [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Technische Universität Hamburg-Harburg Arbeitsbereich Halbleitertechnologie

    Eigenschaften und Technologien von laserrekristallisierten Siliziumdünnschichtbauelementen - [Als Ms. gedr]

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    Düsseldorf: VDI-Verl., 1987

    Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 69

  9. Grabmaier, Josef G. [HerausgeberIn]; Ciszek, Ted F. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Silicon

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    Berlin [u.a.]: Springer, 1981

    Erschienen in: Crystals ; 1981,5

  14. Möller, Hans-Joachim [HerausgeberIn] ; Freiberger Forschungsforum 2 2000 Freiberg, Berg- und Hüttenmännischer Tag 51 2000 Freiberg

    Kristallisation und Technik : Halbleitermaterialien, Prozesstechnologie und Diagnostik ; Vorträge zum 51. Berg- und Hüttenmännischen Tag 2000 - [1. Aufl]

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    Freiberg: TU Bergakad., 2002

    Erschienen in: Freiberger Forschungshefte / B ; 321

  15. Nelles, Nicole [VerfasserIn] ; Müller, Jörg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bauhofer, Wolfgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Technische Universität Hamburg-Harburg Institut für Mikrosystemtechnik

    Elektronenstrahlrekristallisierte Silicium-Solarzellen auf Glas-Substraten : Betrachtung von Struktur und Grenzflächen - [1. Aufl.]

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    München: Dr. Hut, 2008

    Erschienen in: Physik

  18. Gründig-Wendrock, Bianca [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Grundlagenuntersuchungen und Prozessentwicklung zur Kristallisation von multikristallinem Silizium mit stark erhöhter Erstarrungsgeschwindigkeit und Blockgewichten mit bis zu 1000 kg basierend auf dem Soplin-Verfahren : Abschlussbericht ; Verbundprojekt SPEED ; Laufzeit: 01.09.2005 - 31.12.2008

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    Freiberg: Deutsche Solar AG, 2009

  20. Kraschewski, Simon Martin [VerfasserIn] ; Spiecker, Erdmann [AkademischeR BetreuerIn]; Spiecker, Erdmann [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium

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    Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2018