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Kim, Hanseul; Park, Jongmin; Lee, Hyunbae; Yang, Hyeokjoon; Burm, Jinwook

A 24.1 TOPS/W mixed-signal BNN processor in 28-nm CMOS

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Informa UK Limited, 2023

Erschienen in: International Journal of Electronics
Huang, Tian-Wei; Chuang, Kai-Jie; Bai, Wei-Ting; Wang, Chieh-Wei; Lin, Wen-Jie; Zhong, Jie-Ying; Chien, Chen; Tsai, Jeng-Han

A 28-nm CMOS Sub-Volt PA With High Power Density and Common-Mode Stability Design

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters
Yu, Xinwei; Chen, Zhi; Wu, Siqing; Liu, Lulu; Chi, Hao; Ye, Fan; Ren, Junyan

28-nm CMOS Ultrasound AFE With Split Attenuation for Optimizing Gain-Range, Noise, and Area

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
Lv, Jingjing; Du, Li; Du, Yuan

A 31–46 GHz Dual-Core Class-C VCO Using Switchable Transformers in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters
De Vroede, Ariane; Reynaert, Patrick

A 600-GHz Harmonic Injection-Locked Receiver Array Using Interleaved Modulation in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Solid-State Circuits Letters
Esatu, Tsegereda K.; Prakash, Amit; Li, Zhi; Lau, Derek; Jo, Sung Hyun; Liu, Tsu-Jae King

Highly Reliable and Secure PUF Using Resistive Memory Integrated Into a 28 nm CMOS Process

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices
Yang, Shao-Hong; Liu, Tsung-Te

A Highly Stable Physically Unclonable Function Using Algorithm-Based Mismatch Hardening Technique in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
Chen, Xin; Bai, Yuxin; Cao, Jianpeng; Wang, Lei; Zhou, Xinjie; Zhang, Ying; Liu, Weiqiang

Low-Overhead Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Design in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
Sun, Yue; Wang, Xiaohu; Wang, Junyi; Cheng, Shenghua; Liu, Yongbo; Shen, Tingying; Li, Xinyi; Gao, Bin; Qian, He

Programming Strategy Optimization of RRAM Fabricated by 28 nm Standard CMOS Process

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices
Klekotko, A.; Baszczyk, M.; Biereigel, S.; Kulis, S.; Moreira, P.; Prinzie, J.; Tavernier, F.

Radiation hard true single-phase-clock logic for high-speed circuits in 28 nm CMOS

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IOP Publishing, 2023

Erschienen in: Journal of Instrumentation
Kadlubowski, L.A.; Kmon, P.

Recording channel design for time-based measurements in 28 nm CMOS

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IOP Publishing, 2023

Erschienen in: Journal of Instrumentation
Shen, Fan; Chen, Jianjun; Chi, Yaqing; Liang, Bin; Sun, Hanhan; Wen, Yi; Guo, Hao; Wang, Xun

Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science
Lauber, Tim; Wang, Lantao; Bastl, Johannes; Vohl, Kenny; Wunderlich, Ralf; Heinen, Stefan

A TDC With Integrated Snapshot Circuit and Calibration in 28nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
Borghello, G.; Bergamin, G.; Ceresa, D.; Pejašinović, R.; Diaz, F.P.; Kloukinas, K.; Pulli, A.; Ripamonti, G.; Caratelli, A.; Andorno, M.

Total ionizing dose effects on ring-oscillators and SRAMs in a commercial 28 nm CMOS technology

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IOP Publishing, 2023

Erschienen in: Journal of Instrumentation
Shin, Wookjin; Seo, Hyeongmin; Lee, Sangwan; Choi, Dong-Ho; Kwak, Young-Ho; Won, Soon-Jae; Han, Jaeduk

A Variation-Tolerant Voltage-Mode Transmitter With 3+1 Tap FFE in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
Papotto, Giuseppe; Parisi, Alessandro; Finocchiaro, Alessandro; Nocera, Claudio; Cavarra, Andrea; Castorina, Alessandro; Palmisano, Giuseppe

A W-Band Transmitter for Automotive Radar Sensors in 28-nm FD-SOI CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Tang, Zixiang; Lv, Fangxu; Shi, Jianjun; Zhang, Jinwang; Wei, Jiahang; Wang, Xinjie

A 112 Gb/s DAC-Based Duo-Binary PAM4 Transmitter in 28 nm CMOS

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MDPI AG, 2022

Erschienen in: Electronics
Fu, Haipeng; Li, Kai; Ma, Kaixue

A 208–233-GHz Frequency Doubler With 1.1% Power-Added Efficiency in 28-nm CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022

Erschienen in: IEEE Microwave and Wireless Components Letters
Lee, Jooeun; Hong, Songcheol

A 21–41-GHz Common-Gate LNA With TLT Matching Networks in 28-nm FDSOI CMOS

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022

Erschienen in: IEEE Microwave and Wireless Components Letters
Ballo, Andrea; Grasso, Alfio Dario; Privitera, Marco

A 28 nm Bulk CMOS Fully Digital BPSK Demodulator for US-Powered IMDs Downlink Communications

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MDPI AG, 2022

Erschienen in: Electronics

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