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Medientyp: E-Artikel Titel: Research on Single Event Transients in Linear Voltage Regulators in a 28 nm Bulk CMOS Technology Beteiligte: Shen, Fan; Chen, Jianjun; Chi, Yaqing; Liang, Bin; Sun, Hanhan; Wen, Yi; Guo, Hao; Wang, Xun Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2023.3322594 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: