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Knowles, Roy [VerfasserIn]; Knowles, R. [VerfasserIn]

Automatic Testing : Systems and applications

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London [u.a.]: McGraw-Hill, c 1976
Moreira, José [VerfasserIn]; Werkmann, Hubert [VerfasserIn]

An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

Erschienen in: Artech House microwave library
Liguori, Fred [HerausgeberIn]

Automatic test equipment: hardware, software, and management

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New York: IEEE Press, 1974

Erschienen in: IEEE Press selected reprint series
Heinzel, Werner [VerfasserIn]; Regier, Christian [VerfasserIn]

Automatische Prüfsysteme : Struktur und Programmierung ; Prüfprogrrammiersprache ATLAS

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1981

Erschienen in: Digitaltechnik
Köcher, Detlef [VerfasserIn]

Einführung in das automatische Testen bestückter Leiterplatten

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München: Verlag Markt & Technik, 1979
Stroud, Charles E. [VerfasserIn]

A designer's guide to built-in self-test

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Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, 2002

Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 19
ETC 2 1991 München

Proceedings / ETC 91

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Berlin [u.a.]: Vde-Verl., 1991
Gesellschaft Mess- und Regelungstechnik, Fachtagung Automatisierte Meßsysteme 1985 Fellbach

Automatisierte Meßsysteme : Tagung Fellbach, 5. und 6. November 1985

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1985

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: VDI-Berichte ; 56600
Simpson, William Randolph [VerfasserIn]; Sheppard, John W. [VerfasserIn]

System test and diagnosis

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Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 1994
Pantalony, David [VerfasserIn]; Kremer, Richard L. [VerfasserIn]; Manasek, Francis J. [VerfasserIn]

Study, measure, experiment : stories of scientific instruments at Dartmouth College - [1. ed., 1. print.]

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Norwich, Vt.: Terra Nova Press, 2005
Wiklund, Michael E. [VerfasserIn]; Kendler, Jonathan [VerfasserIn] ; Strochlic, Allison Y. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Usability testing of medical devices

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Boca Raton, Fl.a [u.a.]: CRC Press, 2011
Namjoshi, Kedar S. [HerausgeberIn] ; International Haifa Verification Conference 5 2009 Haifa

Hardware and software: verification and testing : 5th International Haifa Verification Conference, HCV 2009, Haifa, Israel, October 19-22, 2009 : revised selected papers

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Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011

Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 6405
Barner, Sharon [HerausgeberIn]; Harris, Ian [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kroening, Daniel [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Raz, Orna [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Haifa Verification Conference 6 2010 Haifa

Hardware and software: verification and testing : 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010 ; revised selected papers

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011

Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 6504
Chockler, Hana [HerausgeberIn]; Hu, Alan J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Haifa Verification Conference 4 2008 Haifa

Hardware and software: verification and testing : 4th International Haifa Verification Conference, HVC 2008, Haifa, Israel, October 27-30, 2008 ; proceedings

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2009

Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 5394
Weinger, Matthew Bret [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wiklund, Michael E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gardner-Bonneau, Daryle [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Handbook of human factors in medical device design

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2011 ; London: Taylor & Francis [distributor], 2011
Yorav, Karen [HerausgeberIn] ; International Haifa Verification Conference 3 2007 Haifa

Hardware and software: verification and testing : third International Haifa Verification Conference, HVC 2007, Haifa, Israel, October 23 - 25, 2007 ; proceedings

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2008

Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 4899
Lenk, John D. [VerfasserIn]; Lenk, J. D. [VerfasserIn]

Handbook of electronic test procedures

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Englewood Cliffs [u.a.]: Prentice-Hall, 1982
Middleton, Robert G. [VerfasserIn] ; Middleton, Robert Gordon [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

New ways to use test meters : a modern guide to electronic servicing

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Englewood Cliffs [u.a.]: Prentice-Hall, 1983
Crouch, Alfred L. [VerfasserIn]

Design-for-test for digital IC's and embedded core systems

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Upper Saddle River, NJ [u.a.]: Prentice Hall PTR, 1999
Test equipment management handbook

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Washington, DC: U.S. Gov. Print. Off., 1970

Erschienen in: USA: Handbook ; 6200.4A

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