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  1. Dammel, Ralph R.; Pawlowski, Georg; Romano, Andrew; Hoolihan, Frank M.; Kim, Woo-Kyu; Sakmuri, Raj; Abdallah, David; Padmanaban, Murirathna; Rahman, M. Dalil; McKenzie, Douglas

    Leaching Phenomena and their Suppresion in 193 nm Immersion Lithography

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    Technical Association of Photopolymers, Japan, 2005

    Erschienen in: Journal of Photopolymer Science and Technology

  2. Conley, Will; LeSuer, Robert J.; Fan, Frank F.; Bard, Allen J.; Taylor, Chris; Tsiartas, Pavlos; Willson, Grant; Romano, Andrew; Dammel, Ralph

    Understanding the photoresist surface-liquid interface for ArF immersion lithography

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    SPIE, 2005

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  3. Padmanaban, Munirathna; Romano, Andrew; Lin, Guanyang; Chiu, Simon; Timko, Allen; Houlihan, Frank; Rahman, Dalil; Chakrapani, S.; Kudo, T.; Dammel, Ralph R.; Turnquest, Karen; Rich, Georgia; Schuetter, Scott D.; Shedd, Timothy A.; Nellis, Gregory F.

    Performance of a dry 193nm resist under wet conditions

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    SPIE, 2006

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  4. Padmanaban, Munirathna; Romano, Andrew; Lin, Guanyang; Chiu, Simon; Timko, Allen; Houlihan, Frank; Rahman, Dalil; Dammel, Ralph R.; Turnquest, Karen; Rich, Georgia; Shuetter, Scott D.; Shedd, Timonthy A.; Nellis, Gregory A.

    Responding to the Challenge: Materials Design for Immersion Lithography

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    Technical Association of Photopolymers, Japan, 2006

    Erschienen in: Journal of Photopolymer Science and Technology