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  1. Bichra, Mohamed [VerfasserIn] ; Sinzinger, Stefan [AkademischeR BetreuerIn]; Manske, Eberhard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Hoffmann, Martin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Development of an innovative metrology technique for freeform optics based on a modified Talbot-wavefront-sensor

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    Ilmenau: TU Ilmenau, 2020

  2. Bichra, Mohamed [VerfasserIn] ; Sinzinger, Stefan [AkademischeR BetreuerIn]; Manske, Eberhard [AkademischeR BetreuerIn]; Hoffmann, Martin [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Ilmenau

    Development of an innovative metrology technique for freeform optics based on a modified Talbot-wavefront-sensor

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    Ilmenau: Universitätsbibliothek, [2020?]

  3. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Meinecke, Thomas [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    In-line setup for the characterization of optical freeform surfaces = In-Line Verfahren zur Charakterisierung von Freiform Oberflächen

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    2018

    Erschienen in: Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik: DGaO-Proceedings ; 119(2018), Artikel-ID P45

  4. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Meinecke, Thomas [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    Innovative Verfahren zur Metrologie von Freiform Oberflächen

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    2017

    Erschienen in: Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik: DGaO-Proceedings ; Bd. 118 (2017), A24, insges. 2 S.

  5. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Sabitov, Nail [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen

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    2014

    Erschienen in: Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik: DGaO-Proceedings ; Bd. 115.2014, P9, insges. 1 S.

  6. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Sabitov, Nail [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    Wavefront sensor based on the modified Talbot effect

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    2015

    Erschienen in: Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik: DGaO-Proceedings ; Bd. 116.2015, P9, insges. 1 S.

  7. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Meinecke, Thomas [VerfasserIn]; Müller, Lutz [VerfasserIn]; Feßer, Patrick [VerfasserIn]; Hoffmann, Martin [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    Innovative freeform measurement method using two dimensional binary diffractive grating based on nanostructured silicon

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    [2017]

    Erschienen in: Ilmenau Scientific Colloquium Engineering for a Changing World (2017 : Ilmenau): Engineering for a changing world ; 2017

  8. Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Sabitov, Nail [VerfasserIn]; Pant, Kamal [VerfasserIn]; Ramu, D. [VerfasserIn]; Khan, Gufran Sayeed [VerfasserIn]; Sinzinger, Stefan [VerfasserIn]

    Subaperture wavefront measurement using Talbot interferometry

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    2016

    Erschienen in: Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik: DGaO-Proceedings ; Bd. 117 (2016), B22, insges. 2 S.

  9. Fischer, Robert [VerfasserIn]; Stubenrauch, Mike [VerfasserIn]; Straube, Anja [VerfasserIn]; Wedrich, Karin [VerfasserIn]; Goj, Boris [VerfasserIn]; Bartsch, Heike [VerfasserIn]; Bichra, Mohamed [VerfasserIn]; Rothe, Holger [VerfasserIn]; Witte, Hartmut [VerfasserIn]

    System for automated cell cultivation and analysis

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    [2017]

    Erschienen in: Ilmenau Scientific Colloquium Engineering for a Changing World (2017 : Ilmenau): Engineering for a changing world ; 2017

  12. Kaddaf, Anouar; Otheman, Yassine; Alaoui, YounessMamouni; Kadiri, Mohamed; Mehssani, Jamal; Bichra, Mohamedzakarya

    LEUKOARAIOSIS AND DEPRESSION: LINKS BETWEEN THE RADIOLOGICAL ENTITY AND THE DEPRESSIVE SYMPTOMATOLOGY

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    International Journal Of Advanced Research, 2018

    Erschienen in: International Journal of Advanced Research, 6 (2018) 9, Seite 206-210

  15. Hillenbrand, Matthias; Grewe, Adrian; Bichra, Mohamed; Kleindienst, Roman; Lorenz, Lucia; Kirner, Raoul; Weiß, Robert; Sinzinger, Stefan

    Parallelized chromatic confocal sensor systems

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    SPIE, 2013

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2013)

  17. Burada, Dali R.; Pant, Kamal K.; Mishra, Vinod; Bichra, Mohamed; Khan, Gufran S.; Sinzinger, Stefan; Shakher, Chandra

    Development of metrology for freeform optics in reflection mode

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    SPIE, 2017

    Erschienen in: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X (2017)