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Deyl, Zdeněk [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Advanced chromatographic and electromigration methods in biosciences - [1. ed.]

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Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1998

Erschienen in: Journal of chromatography / Library ; 6000
Spolenak, Ralph [Verfasser:in]

Alloying effects in electromigration

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Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999

Erschienen in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 80
Schührer, Holger [Verfasser:in]

Elektromigrationsuntersuchungen mit Rastersondenmethoden - [1. Aufl.]

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Göttingen: Cuvillier, 2000
Scherge, Matthias [Verfasser:in]

Ein Computermodell zur Unterstützung von Messungen zur Elektromigration in Aluminium-Leitbahnen auf integrierten Schaltkreisen

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1992
Ogawa, Shinichi [Herausgeber:in] ; International Workshop on Stress Induced Phenomena in Metallization 9 2007 Kyōto

Stress-Induced Phenomena in Metallization : Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization - [1. ed.]

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Melville [u.a.]: AIP Press, 2007

Erschienen in: American Institute of Physics: AIP conference proceedings ; 945
Taut, Steffen [Verfasser:in]

Computergestützte Elektromigrations- und Ionenaustauschexperimente

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1992
Kötter, Thomas [Verfasser:in]

Gefügeeinfluß auf das Elektromigationsverhalten von Kupferleitbahnen für höchstintegrierte Schaltungen

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2002
Dietrich, Stefan [Verfasser:in]

Metallurgische Eigenschaften und Elektromigration in AlCux-Legierungen für höchstintegrierte Schaltkreise

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Augsburg: Wißner, 1997

Erschienen in: Augsburger mathematisch-naturwissenschaftliche Schriften ; 17
Knauß, Michael Peter [Verfasser:in]

Untersuchung mikromechanischer Eigenschaften von dünnen Schichten und Mikrokomponenten durch Nanoindentationsmethoden

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Stuttgart: Inst. für Metallkunde, 1996 ; Stuttgart: Max-Planck-Inst. für Metallforschung, 1996

Erschienen in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 17
Hoebbel, Helmut [Verfasser:in]

Ein Computermodell zur Simulation des Einflusses der Kornstruktur auf das Elektromigrationsverhalten von Leiterbahnen in integrierten Schaltkreisen

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1994
Möller, André [Verfasser:in]

Materialtransport in stromdurchflossenen Kupfer-Aluminium- und Kupfer-Zinn-Kontakten

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1994
Bigalke, Steve [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen - [Als Manuskript gedruckt]

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Düsseldorf: VDI-Verlag GmbH, [2020] ; Dresden: Technische Universität Dresden, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design, [2020]

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 472
Christou, Aris [Herausgeber:in]

Electromigration and electronic device degradation

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New York, NY [u.a.]: Wiley, 1994
Thiele, Matthias [Verfasser:in]

Elektromigration und deren Berücksichtigung beim zukünftigen Layoutentwurf digitaler Schaltungen - [Als Manuskript gedruckt]

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Düsseldorf: VDI Verlag GmbH, [2017]

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 395
Reed, Christian [Herausgeber:in]

Capillary electrophoresis (CE) : principles, challenges and applications

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New York, NY: Nova Science Publishers, [2015]

Erschienen in: Nanotechnology science and technology
Kok, Wim Th [Verfasser:in]

Capillary electrophoresis: instrumentation and operation

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Wiesbaden: Vieweg, 2000

Erschienen in: Chromatographia CE series ; [4]
Camilleri, Patrick [Herausgeber:in]

Capillary electrophoresis : theory and practice - [2. ed.]

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, c1998

Erschienen in: New directions in organic and biological chemistry
Weinberger, Robert [Verfasser:in]

Practical capillary electrophoresis - [2. ed.]

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San Diego, Calif. [u.a.]: Acad. Press, 2000
Kuhn, Reinhard [Verfasser:in]; Hoffstetter-Kuhn, Sabrina [Verfasser:in]

Capillary electrophoresis : principles and practice

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1993

Erschienen in: Springer Laboratory
Li, Sam F. [Verfasser:in]

Capillary electrophoresis : principles, practice and applications

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Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1992

Erschienen in: Journal of chromatography / Library ; 52

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