> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch Titel: Electromigration and electronic device degradation Beteiligte: Christou, Aris [Hrsg.] Erschienen: New York, NY [u.a.]: Wiley, 1994 Umfang: XIV, 343 S; Ill., graph. Darst; 25 cm Sprache: Englisch ISBN: 0471584894 RVK-Notation: ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Schlagwörter: Elektromigration > Halbleiterschaltung > Schädigung Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben