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  1. Prutton, Martin [VerfasserIn]; El Gomati, Mohamed M. [VerfasserIn]

    Scanning auger electron microscopy

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    Chichester [u.a.]: Wiley, 2006

  3. Goldstein, Joseph [VerfasserIn]; Newbury, Dale E. [VerfasserIn]; Michael, Joseph R. [VerfasserIn]; Ritchie, Nicholas W. M. [VerfasserIn]; Scott, John Henry J. [VerfasserIn]; Joy, David C. [VerfasserIn]

    Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis - [Fourth edition]

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    New York, NY, U.S.A.: Springer, [2018]

  6. Lyman, Charles E. [HerausgeberIn]; Newbury, Dale E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Williams, David B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Romig, Alton D. Jr [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Armstrong, John T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Echlin, Patrick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiori, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Joy, David C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lifshin, Eric [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Peters, Klaus-Ruediger [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook

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    New York [u.a.]: Plenum Press, 1990

  11. Goldstein, Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Newbury, Dale E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Echlin, Patrick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Joy, David C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiori, charles [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lifshin, Eric [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists - [2. print]

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    New York [u.a.]: Plenum Press, 1984

  12. Ludwig, Christoph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Strohmaier, Rainer [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Petersen, Jörg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gompf, Bruno [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eisenmenger, Wolfgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Epitaxy and scanning tunneling microscopy image contrast of copper-phthalocyanine on graphite and MoS2

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    1994 ; Online-Ausg., Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2009

  13. Ludwig, Christoph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eberle, Gernot [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gompf, Bruno [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Petersen, Jörg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eisenmenger, Wolfgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Thermal motion of one-dimensional domain walls in monolayers of a polar polymer observed by Video-STM

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    1993 ; Online-Ausg., Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2009

  14. Golder, Katharina Maria [VerfasserIn] ; Wintterlin, Joost [AkademischeR BetreuerIn]

    ˜Theœ materials gap in the Fischer-Tropsch synthesis : model studies on Co(0001) and Co(10-115) by scanning tunneling microscopy and gas chromatography

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    München: Universitätsbibliothek der Ludwig-Maximilians-Universität, 2022

  15. Rosenzweig, Dorothee Sophie [VerfasserIn] ; Eisele, Holger [AkademischeR BetreuerIn]; Esser, Norbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Geelhaar, Lutz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eisele, Holger [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Interaction of atomic hydrogen with GaAs(110) surfaces: adsorption, defect generation, facetation, and cleaning

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    Berlin: Technische Universität Berlin, 2023

  16. Gopakumar, Thiruvancheril Gopalakrishnan [VerfasserIn]

    Electronic, geometric and functional-group effects in the adsorption of organic molecules : STM and STS of ultra-thin layers of Phthalocyanines and Naphthalcyanines on graphite (0001)

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    2006

  18. Rackwitz, Vanessa [VerfasserIn]

    Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop

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    Berlin: Bundesanst. für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2011

    Erschienen in: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung: BAM-Dissertationsreihe ; 81

  19. Groß, Boris [VerfasserIn] ; Nilius, Niklas [AkademischeR BetreuerIn]; Kittel, Achim [AkademischeR BetreuerIn]; Shamery, Katharina al- [AkademischeR BetreuerIn]

    STM study of bare and copper covered ceria thin films

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    Oldenburg, 2018