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Medientyp: Buch Titel: Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Beteiligte: Goldstein, Joseph I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: New York [u.a.]: Springer, 2007 Ausgabe: 3. ed., corr. print. Umfang: XIX, 690 S., [3] Bl; Ill., graph. Darst; CD-ROM Beil Sprache: Englisch ISBN: 9780306472923 RVK-Notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Rasterelektronenmikroskopie Elektronenstrahlmikroanalyse Elektronenstrahlmikroanalyse > Werkstoff Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: Includes bibliographical references and index
Bestand der TU Dresden Signatur: 2013 4 014499 Barcode: 11791430N Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Botanik erfragen.