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  1. Hauf, Werner [Verfasser:in] ; Grigull, Ulrich [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Mayinger, Franz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Optische Meßverfahren der Wärme- und Stoffübertragung

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    Berlin; Heidelberg; New York; London; Paris; Tokyo; Hong Kong: Springer, 1991

    Erschienen in: Wärme- und Stoffübertragung

  2. Hoffmann, Fritz [Verfasser:in]; Tingwaldt, Carl [Verfasser:in]

    Optische Pyrometrie

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    Braunschweig: Vieweg, 1938

    Erschienen in: Sammlung Vieweg ; 115

  3. Kübler, Karl-Heinz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Technische Universität Dresden

    Optische Messgeräte

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    Berlin: Verl. Technik, 19XX-

    Erschienen in: Lehrbriefe für das Fernstudium / Technische Universität Dresden

  4. Pankrath, Holger [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

    Beitrag zur Fallgewichtsverdichtung in sandigem Boden = Contribution to heavy tamping in sandy soils

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    Dresden: Technische Universität Dresden, Institut für Geotechnik, 2019

    Erschienen in: Technische Universität Dresden: Mitteilungen ; 25

  5. Grün, Armin [Herausgeber:in] ; Conference on Optical 3-D Measurement Techniques 4 1997 Zürich

    Papers presented to the conference / [The Fourth Conference on Optical 3-D Measurement Techniques] : organized at Zürich, 29. Sept. - 2. Oct. 1997; [applications in architecture, quality control, robotics, navigation, mediacl imaging and animation]

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    Heidelberg: Wichmann, 1997

    Erschienen in: Optical 3 D measurement techniques ; 4

  6. Wüstenberg, Eike Gunther [Verfasser:in]

    Die optische Rhinometrie

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    20XX-

  7. Ferreras Paz, Valeriano [Verfasser:in] ; Universität Stuttgart

    Erweiterungen der Scatterometrie zur modellbasierten optischen Nanometrologie von Halbleiterstrukturen

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    Stuttgart: Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart, November 2019

    Erschienen in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 100

  8. Servín, Manuel [Verfasser:in]; Antonio Quiroga, J. [Verfasser:in]; Moisés Padilla, J. [Verfasser:in] ; Quiroga, J. Antonio [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Padilla, J. Moisés [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications

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    Weinheim: Wiley-VCH, 2014

  9. International Symposium on Photonics in Measurement 2002 Aachen, Verein Deutscher Ingenieure Kompetenzfeld Optische Technologien

    International Symposium on Photonics in Measurement : international symposium, 11 - 12 June 2002, Aachen, Germany - [Nichtred. Manuskriptdr.]

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    Düsseldorf: VDI-Verl., 2002

    Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: VDI-Berichte ; 1694