Zum Inhalt springen

  1. Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Chang, Yao-Wen [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Cheng, Kwang-Ting [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Electronic design automation : synthesis, verification, and test

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Amsterdam, Heidelberg [u.a.]: Elsevier Morgan Kaufmann Publ., 2009

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  2. Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Stroud, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Touba, Nur A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    System-on-chip test architectures : nanometer design for testability

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Morgan Kaufmann Publishers, 2008

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  3. Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    VLSI test principles and architectures : design for testability

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  4. Wang, Laung-Terng [MitwirkendeR]; Chang, Yao-Wen [MitwirkendeR]; Cheng, Kwang-Ting [MitwirkendeR]

    Electronic design automation : synthesis, verification, and test

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Burlington, MA: Morgan Kaufmann/Elsevier, c2009

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  5. Wang, Laung-Terng [MitwirkendeR]; Wu, Cheng-Wen [MitwirkendeR]; Wen, Xiaoqing [MitwirkendeR]

    VLSI test principles and architectures : design for testability

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Amsterdam ;: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  6. TOMITA, Akihiro; WEN, Xiaoqing; SATO, Yasuo; KAJIHARA, Seiji; MIYASE, Kohei; HOLST, Stefan; GIRARD, Patrick; TEHRANIPOOR, Mohammad; WANG, Laung-Terng

    On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE), 2014

    Erschienen in: IEICE Transactions on Information and Systems

  7. MIYASE, Kohei; WEN, Xiaoqing; FURUKAWA, Hiroshi; YAMATO, Yuta; KAJIHARA, Seiji; GIRARD, Patrick; WANG, Laung-Terng; TEHRANIPOOR, Mohammad

    High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE), 2010

    Erschienen in: IEICE Transactions on Information and Systems

  8. Wang, Laung-Terng; Wen, Xiaoqing; Wu, Shianling; Furukawa, Hiroshi; Chao, Hao-Jan; Sheu, Boryau; Guo, Jianghao; Jone, Wen-Ben

    Using Launch-on-Capture for Testing BIST Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010

    Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

  9. Wu, Shianling; Wang, Laung-Terng; Wen, Xiaoqing; Jone, Wen-Ben; Hsiao, Michael S.; Li, Fangfang; Li, James Chien-Mo; Huang, Jiun-Lang

    Launch-on-Shift Test Generation for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Association for Computing Machinery (ACM), 2012

    Erschienen in: ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

  10. Wang, Laung-Terng; Apte, Ravi; Wu, Shianling; Sheu, Boryau; Lee, Kuen-Jong; Wen, Xiaoqing; Jone, Wen-Ben; Guo, Jianghao; Wang, Wei-Shin; Chao, Hao-Jan; Liu, Jinsong; Niu, Yanlong; Sung, Yi-Chih; Wang, Chi-Chun; Li, Fangfang

    Turbo1500: Core-Based Design for Test and Diagnosis

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009

    Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers

  11. Wu, Shianling; Wang, Laung-Terng; Wen, Xiaoqing; Jiang, Zhigang; Tan, Lang; Zhang, Yu; Hu, Yu; Jone, Wen-Ben; Hsiao, Michael S.; Li, James Chien-Mo; Huang, Jiun-Lang; Yu, Lizhen

    Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011

    Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems