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Medientyp: Buch Titel: VLSI test principles and architectures : design for testability Beteiligte: Wang, Laung-Terng [Hrsg.]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006 Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Umfang: XXX, 777 S; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0123705975; 9780123705976 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente ZN 4950 : Schaltungen der Grossintegration (LSI) Schlagwörter: VLSI VLSI > Testen Entstehung: Anmerkungen: Includes bibliographical references and index Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke