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  4. Lombardi, Fabrizio [HerausgeberIn]; Sami, Mariagiovanna [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI 1987 Como

    Testing and diagnosis of VLSI and ULSI : proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI, Como, Italy, June 22 - July 3, 1987]

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    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1988

    Erschienen in: NATO: NATO ASI series / E ; 151

  9. Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    VLSI test principles and architectures : design for testability

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    Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

  10. Wright, Stephen J. [VerfasserIn]

    Primal-dual interior-point methods

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    Philadelphia, Pa.: SIAM, Soc. for Industrial and Applied Mathematics, c 1997

  15. Wang, Laung-Terng [HerausgeberIn]; Stroud, Charles E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Touba, Nur A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    System-on-chip test architectures : nanometer design for testability

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    Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Morgan Kaufmann Publishers, 2008

    Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon