Skip to contents Ochoa Brezmes, Ángel [Author] ; Technische Universität Dresden Analysis of critical conditions during wafer testing by the use of the finite element method Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [2018?] Eichenseer, Christoph [Author] ; Technische Universität Dresden, Verlag Dr. Hut München Application of external physical or electrical stimulations in integrated circuit testing - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: Veralg Dr. Hut, [2018] Published in: Mikrosystemtechnik Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung ortsfester elektrischer Anlagen und Betriebsmittel : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0100-600 und 0105-100 für die Prüfung vor Ort - [2., überarbeitete Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Merching: Forum Verlag Herkert GmbH, [2017] Published in: Elektrosicherheit und Elektrotechnik Döring, Stefan [Author] ; Technische Universität Dresden, Logos Verlag Berlin Scanning spreading resistance microscopy and its application to passive and active semiconductor device characterization Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Logos Verlag, 2017 Published in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 5 Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] ; Forum Verlag Herkert GmbH Handbuch Prüfung ortsfester elektrischer Anlagen und Betriebsmittel : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0100-600 und 0105-100 für die Prüfung vor Ort - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, 2016 Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] ; Forum Verlag Herkert GmbH Handbuch Prüfung ortsveränderlicher elektrischer Geräte : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0701-0702 für die Prüfung vor Ort - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, [2016] Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung elektrischer Geräte und Anlagen : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte für die Prüfung vor Ort Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, 2015 Bohm, Johannes [Author] InduLIT : Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Templin: Detert, 2015 Published in: System integration in electronic packaging ; 22 Hrobak, Michael [Author] Critical millimeter-wave components for synthetic automatic test systems = Kritische Millimeter-Wellen Komponenten für synthetische automatische Testsysteme Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2014 Tomal, Daniel R. [Author]; Agajanian, Aram S. [Author] Electronic troubleshooting - [4. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: McGraw-Hill, 2014 Krupinski, Martin [Author] Geometrie-Charakerisierung von Halbleiter-Mikrostrukturen mittels Infrarot-Strahlung Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2014 Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung elektrischer Geräte und Anlagen : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte für die Prüfung vor Ort Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Merching: Forum Verlag Herkert, 2014 Bödeker, Klaus [Other]; Feulner, Dieter [Other]; Kammerhoff, Ulrich [Other]; Kindermann, Robert [Other] Prüfung elektrischer Geräte in der betrieblichen Praxis : nach DIN VDE 0701-0702, DIN EN 62353 (VDE 0751-1) - [7., aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2014 Published in: Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Schriftenreihe ; 62.2014 Eggersglüß, Stephan [Author]; Fey, Görschwin [Author]; Polian, Ilia [Author] Test digitaler Schaltkreise Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: De Gruyter Oldenbourg, 2014 Published in: Studium Oppermann, Martin [Author] Zerstörungsfreie Analyse- und Prüfverfahren zur Detektion von Fehlern und Ausfällen in elektronischen Baugruppen - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Templin: Detert, 2014 Bödeker, Klaus [Author]; Bödeker, Friedrich [Author]; Lochthofen, Michael [Author] Prüfung elektrischer Geräte : eine Prüfanweisung für elektrotechnisch unterwiesene Personen - [3., völlig neu bearbeitete und erweiterte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Heidelberg: Hüthig & Pflaum, 2013 Published in: de-Fachwissen Spear, Chris [Author]; Tumbush, Greg [Author]; Tumbush, Gregory Joseph [Author] SystemVerilog for verification : a guide to learning the testbench language features - [3rd ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2012 Berger, Mario [Author] Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung : vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2012 Müller, Reik [Author] Ein Beitrag zum linearen modellbasierten Test nichtlinearer kaskadierter Strukturen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: TUDpress, Verl. der Wiss., 2011 Kanekawa, Nobuyasu [Author]; Ibe, Eishi H. [Author]; Suga, Takashi [Author] ; Uematsu, Yutaka [Other] Dependability in electronic systems : mitigation of hardware failures, soft errors, and electro-magnetic disturbances Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY [u.a.]: Springer New York, 2011
Ochoa Brezmes, Ángel [Author] ; Technische Universität Dresden Analysis of critical conditions during wafer testing by the use of the finite element method Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [2018?]
Eichenseer, Christoph [Author] ; Technische Universität Dresden, Verlag Dr. Hut München Application of external physical or electrical stimulations in integrated circuit testing - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: Veralg Dr. Hut, [2018] Published in: Mikrosystemtechnik
Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung ortsfester elektrischer Anlagen und Betriebsmittel : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0100-600 und 0105-100 für die Prüfung vor Ort - [2., überarbeitete Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Merching: Forum Verlag Herkert GmbH, [2017] Published in: Elektrosicherheit und Elektrotechnik
Döring, Stefan [Author] ; Technische Universität Dresden, Logos Verlag Berlin Scanning spreading resistance microscopy and its application to passive and active semiconductor device characterization Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Logos Verlag, 2017 Published in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 5
Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] ; Forum Verlag Herkert GmbH Handbuch Prüfung ortsfester elektrischer Anlagen und Betriebsmittel : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0100-600 und 0105-100 für die Prüfung vor Ort - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, 2016
Donath, Karl [Author]; Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] ; Forum Verlag Herkert GmbH Handbuch Prüfung ortsveränderlicher elektrischer Geräte : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte gem. DIN VDE 0701-0702 für die Prüfung vor Ort - [1. Auflage] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, [2016]
Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung elektrischer Geräte und Anlagen : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte für die Prüfung vor Ort Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Mering: Forum Verlag Herkert, 2015
Bohm, Johannes [Author] InduLIT : Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Templin: Detert, 2015 Published in: System integration in electronic packaging ; 22
Hrobak, Michael [Author] Critical millimeter-wave components for synthetic automatic test systems = Kritische Millimeter-Wellen Komponenten für synthetische automatische Testsysteme Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2014
Tomal, Daniel R. [Author]; Agajanian, Aram S. [Author] Electronic troubleshooting - [4. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: McGraw-Hill, 2014
Krupinski, Martin [Author] Geometrie-Charakerisierung von Halbleiter-Mikrostrukturen mittels Infrarot-Strahlung Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2014
Orgel, Christian [Author]; Rottmann, Rainer [Author] Handbuch Prüfung elektrischer Geräte und Anlagen : Prüfabläufe, Grenz- und Richtwerte für die Prüfung vor Ort Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Merching: Forum Verlag Herkert, 2014
Bödeker, Klaus [Other]; Feulner, Dieter [Other]; Kammerhoff, Ulrich [Other]; Kindermann, Robert [Other] Prüfung elektrischer Geräte in der betrieblichen Praxis : nach DIN VDE 0701-0702, DIN EN 62353 (VDE 0751-1) - [7., aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2014 Published in: Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Schriftenreihe ; 62.2014
Eggersglüß, Stephan [Author]; Fey, Görschwin [Author]; Polian, Ilia [Author] Test digitaler Schaltkreise Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: De Gruyter Oldenbourg, 2014 Published in: Studium
Oppermann, Martin [Author] Zerstörungsfreie Analyse- und Prüfverfahren zur Detektion von Fehlern und Ausfällen in elektronischen Baugruppen - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Templin: Detert, 2014
Bödeker, Klaus [Author]; Bödeker, Friedrich [Author]; Lochthofen, Michael [Author] Prüfung elektrischer Geräte : eine Prüfanweisung für elektrotechnisch unterwiesene Personen - [3., völlig neu bearbeitete und erweiterte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Heidelberg: Hüthig & Pflaum, 2013 Published in: de-Fachwissen
Spear, Chris [Author]; Tumbush, Greg [Author]; Tumbush, Gregory Joseph [Author] SystemVerilog for verification : a guide to learning the testbench language features - [3rd ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2012
Berger, Mario [Author] Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung : vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2012
Müller, Reik [Author] Ein Beitrag zum linearen modellbasierten Test nichtlinearer kaskadierter Strukturen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: TUDpress, Verl. der Wiss., 2011
Kanekawa, Nobuyasu [Author]; Ibe, Eishi H. [Author]; Suga, Takashi [Author] ; Uematsu, Yutaka [Other] Dependability in electronic systems : mitigation of hardware failures, soft errors, and electro-magnetic disturbances Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY [u.a.]: Springer New York, 2011
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