InduLIT: Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik

Media type: Book; Thesis
Title: InduLIT : Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik
Contributor: Bohm, Johannes [Author]
imprint: Templin: Detert, 2015
Published in: System integration in electronic packaging ; 22
Issue: 1. Aufl.
Extent: IX, 136, XVIII S.; graph. Darst; 210 mm x 148 mm
Language: German
ISBN: 9783934142695
RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente
ZN 4032 : Nichtelektrische Prüfverfahren
Keywords: Elektroniktechnologie > Verbindungstechnik > Funktionstest > Gedruckte Schaltung > Durchkontaktieren > Rissbildung > Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung > Thermografie > Spulensystem > Anregung
Origination:
University thesis: Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik, Diss., 2014
Footnote:

InduLIT : Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik - [1. Aufl.]