Skip to contents Düsterhöft, Heinz [Author]; Riedel, Miklos [Author]; Düsterhöft, Bettina-Kirsten [Author] Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- : mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart; Leipzig: Teubner, 1999 Published in: Teubner-Studienbücher ; Physik Practical surface analysis / 2, Ion and neutral spectroscopy - [2. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chichester: Wiley, 1992 Published in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 2,2 Götz, Gerhard [Editor] High energy ion beam analysis of solids Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Akademie-Verl., 1988 Published in: Physical research ; 6 Mai, Hermann [Author] ; Akademie der Wissenschaften der DDR Investigation of the sampling volume in secondary ion microanalysis : phenomenological considerations about the interaction between oxygen primary ions and the solid specimen - [als Manuskr. gedr.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: Zentralinst. für Festkörperphysik u. Werkstofforschung, 1986 Published in: Zentralinstitut für Festkörperphysik und Werkstofforschung: Wissenschaftliche Berichte ; 33 Prigge, Stefan [Author] Untersuchungen zum Sekundärionenemissionsmechanismus Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1983 Bünau, Günther von [Author]; Kloeppel, Klaus-Dieter [Author] Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981 Published in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049 Handbook of nanoscopy / 2 Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim: Wiley-VCH, 2012 Published in: Handbook of nanoscopy / ed. by Gustaaf Van Tendeloo ... ; 2 Brümmer, Otto [Editor]; Berg, Uta [Other] Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [2., durchges. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, [1980] Brümmer, Otto [Editor] Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Leipzig: Dt. Verl. für Grundstoffindustrie, [19]78 Bieringer, Peter [Author] Stöchiometrieuntersuchungen von Schichtsystemen für die Nanoelektronik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2000 Briggs, David [Author]; Brown, Alan [Author]; Vickerman, John C. [Author] Handbook of static secondary ion mass spectrometry Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chichester [u.a.]: Wiley, 1989 Wilson, Robert G. [Author]; Stevie, Fred A. [Author]; Magee, Charles W. [Author] Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: Wiley, 1989 Published in: A Wiley-Interscience publication Vickerman, John C. [Editor] Secondary ion mass spectrometry : principles and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Oxford [u.a.]: Clarendon Press, 1989 Published in: International series of monographs on chemistry ; 1700 Grasserbauer, Manfred [Author]; Dudek, Hans J. [Author]; Ebel, Maria F. [Author] ; Dudek, Hans Joachim [Other] Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Akad.-Verl., 1986 Benninghoven, Alfred [Author]; Rüdenauer, F. G. [Author]; Werner, H. W. [Author] Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY [u.a.]: Wiley, 1987 Published in: Chemical analysis ; 86 Mahoney, Christine M. [Editor] Cluster secondary ion mass spectrometry : principles and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Hoboken, NJ: Wiley, 2013 Published in: Wiley series on mass spectrometry Fuchs, Ekkehard [Author]; Oppolzer, Helmut [Author]; Rehme, Hans [Author] Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim [u.a.]: VCH, 1990 Mazilu, Irina [Author] Einkristallzüchtung und Konstitutionsuntersuchungen von magnetisch geordneten Seltenerd-Übergangsmetallverbindungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Uni-Edition, 2007 Greiser, Jens [Author] Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999 Published in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 83 Czanderna, Alvin W. [Editor]; Hercules, David M. [Other] Ion spectroscopies for surface analysis Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: Plenum Press, 1991 Published in: Methods of surface characterization ; 2
Düsterhöft, Heinz [Author]; Riedel, Miklos [Author]; Düsterhöft, Bettina-Kirsten [Author] Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- : mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart; Leipzig: Teubner, 1999 Published in: Teubner-Studienbücher ; Physik
Practical surface analysis / 2, Ion and neutral spectroscopy - [2. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chichester: Wiley, 1992 Published in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 2,2
Götz, Gerhard [Editor] High energy ion beam analysis of solids Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Akademie-Verl., 1988 Published in: Physical research ; 6
Mai, Hermann [Author] ; Akademie der Wissenschaften der DDR Investigation of the sampling volume in secondary ion microanalysis : phenomenological considerations about the interaction between oxygen primary ions and the solid specimen - [als Manuskr. gedr.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: Zentralinst. für Festkörperphysik u. Werkstofforschung, 1986 Published in: Zentralinstitut für Festkörperphysik und Werkstofforschung: Wissenschaftliche Berichte ; 33
Prigge, Stefan [Author] Untersuchungen zum Sekundärionenemissionsmechanismus Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1983
Bünau, Günther von [Author]; Kloeppel, Klaus-Dieter [Author] Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981 Published in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049
Handbook of nanoscopy / 2 Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim: Wiley-VCH, 2012 Published in: Handbook of nanoscopy / ed. by Gustaaf Van Tendeloo ... ; 2
Brümmer, Otto [Editor]; Berg, Uta [Other] Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [2., durchges. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, [1980]
Brümmer, Otto [Editor] Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Leipzig: Dt. Verl. für Grundstoffindustrie, [19]78
Bieringer, Peter [Author] Stöchiometrieuntersuchungen von Schichtsystemen für die Nanoelektronik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 2000
Briggs, David [Author]; Brown, Alan [Author]; Vickerman, John C. [Author] Handbook of static secondary ion mass spectrometry Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chichester [u.a.]: Wiley, 1989
Wilson, Robert G. [Author]; Stevie, Fred A. [Author]; Magee, Charles W. [Author] Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: Wiley, 1989 Published in: A Wiley-Interscience publication
Vickerman, John C. [Editor] Secondary ion mass spectrometry : principles and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Oxford [u.a.]: Clarendon Press, 1989 Published in: International series of monographs on chemistry ; 1700
Grasserbauer, Manfred [Author]; Dudek, Hans J. [Author]; Ebel, Maria F. [Author] ; Dudek, Hans Joachim [Other] Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Akad.-Verl., 1986
Benninghoven, Alfred [Author]; Rüdenauer, F. G. [Author]; Werner, H. W. [Author] Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York, NY [u.a.]: Wiley, 1987 Published in: Chemical analysis ; 86
Mahoney, Christine M. [Editor] Cluster secondary ion mass spectrometry : principles and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Hoboken, NJ: Wiley, 2013 Published in: Wiley series on mass spectrometry
Fuchs, Ekkehard [Author]; Oppolzer, Helmut [Author]; Rehme, Hans [Author] Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim [u.a.]: VCH, 1990
Mazilu, Irina [Author] Einkristallzüchtung und Konstitutionsuntersuchungen von magnetisch geordneten Seltenerd-Übergangsmetallverbindungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Uni-Edition, 2007
Greiser, Jens [Author] Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999 Published in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 83
Czanderna, Alvin W. [Editor]; Hercules, David M. [Other] Ion spectroscopies for surface analysis Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: Plenum Press, 1991 Published in: Methods of surface characterization ; 2
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