Media type: Book Title: Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse Contributor: Bünau, Günther von [Author]; Kloeppel, Klaus-Dieter [Author] Published: Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981 Published in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049 Extent: 23 S.; graph. Darst Language: German ISBN: 3531030493 RVK notation: VG 9807 : Dissertationen, Habilitationsschriften, wertvollere und umfangreichere Sonderdrucke Keywords: Sekundärionen-Massenspektrometrie > Oberflächenanalyse Origination: Footnote:
Central Library – stack Shelf-mark: 0682 00287 001 Item ID: 10253410 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Orders received from Mon - Fri by 1 pm are expected to be ready for you on the same day.