Skip to contents Speiser, E. [Author]; Binetti, M. [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; Haberland, Kolja [Editor] LayTec AG Graphenprozessierung auf 200mm Wafern für mikroelektronische Anwendungen (GIMMIK) : Titel des Teilprojekts: In-situ und ex-situ Messtechnik für die Überwachung der Graphenherstellung : Abschlussbericht zu einem geförderten R&D-Projekt : Laufzeit des Vorhabens: 01.01.2019-30.06.2022 : Berichtszeitraum: Gesamtzeitraum (Abschlussbericht) - [Version 1.0] Books View online Schließen > Access ... to E-book (Volltext ; PDF document ; freely accessible) ... to E-book via DOI (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: LayTec AG, 22.12.2022 Haberland, Kolja [Author] ; LayTec AG Sicherung der Zukunftsfähigkeit in der Epitaxie von Verbindungshalbleitern durch Anwendung von Industrie 4.0-Prinzipien: In-situ und in-line Messtechnik, Kurzbezeichnung: MOCVD Metrology 4.0 : Abschlussbericht zu einem geförderten R&D-Projekt : Titel des Verbundprojekts: Optimierte Produktion von Verbindungshalbleitern für erhöhte Wirkungsgrade in der Energieversorgung : Laufzeit des Vorhabens: 01.01.2019-31.12.2021 - [Version 1.0] Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) ... to E-book (PDF document ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: [LAyTec AG], 11.08.2022 Malguth, E. [Author]; Kaspari, C. [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; Blank, Volker [Contributor] LayTec AG In-situ-Kontrolle von Epitaxie und Plasmaprozessen für die Herstellung von UV-LEDs; Verbundvorhaben: "UV Power"; Teilprojekt 4 : Projekt-Abschlussbericht Zwanzig20 - Advanced UV for Life : Projektlaufzeit: 01.02.2017-30.09.2021 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: LayTec, [2021?] Buick, Benjamin [Author]; Zettler, Johannes [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; LayTec AG UV/vis/NIR-Reflektometrie für die in-situ-Überwachung der Epitaxie von UV-LEDs : Projekt-Abschlussbericht Zwanzig20 - advanced UV for life : Verbundvorhaben "UV-Reflekt" : Teilprojekt 1: "UV-vis-NIR in-situ Reflektometer" : Projektlaufzeit: 01.01.2016 bis 31.10.2018 = "UV-reflekt" - UV/VIS/NIR-reflectometer for in-situ monitoring of UV-LED epitaxial growth Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: LayTec AG, [2018?] Prall, Christoph; Kaspari, Christian; Knauer, Arne; Haberland, Kolja; Weyers, Markus; Rueter, Dirk In-situ photoluminescence measurements during MOVPE of GaN andInGaN in a CCS reactor Articles View online Schließen > Access Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Walter de Gruyter GmbH, 2017 Published in: tm - Technisches Messen, 84 (2017) 11, Seite 747-752
Speiser, E. [Author]; Binetti, M. [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; Haberland, Kolja [Editor] LayTec AG Graphenprozessierung auf 200mm Wafern für mikroelektronische Anwendungen (GIMMIK) : Titel des Teilprojekts: In-situ und ex-situ Messtechnik für die Überwachung der Graphenherstellung : Abschlussbericht zu einem geförderten R&D-Projekt : Laufzeit des Vorhabens: 01.01.2019-30.06.2022 : Berichtszeitraum: Gesamtzeitraum (Abschlussbericht) - [Version 1.0] Books View online Schließen > Access ... to E-book (Volltext ; PDF document ; freely accessible) ... to E-book via DOI (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: LayTec AG, 22.12.2022
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Haberland, Kolja [Author] ; LayTec AG Sicherung der Zukunftsfähigkeit in der Epitaxie von Verbindungshalbleitern durch Anwendung von Industrie 4.0-Prinzipien: In-situ und in-line Messtechnik, Kurzbezeichnung: MOCVD Metrology 4.0 : Abschlussbericht zu einem geförderten R&D-Projekt : Titel des Verbundprojekts: Optimierte Produktion von Verbindungshalbleitern für erhöhte Wirkungsgrade in der Energieversorgung : Laufzeit des Vorhabens: 01.01.2019-31.12.2021 - [Version 1.0] Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) ... to E-book (PDF document ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: [LAyTec AG], 11.08.2022
Malguth, E. [Author]; Kaspari, C. [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; Blank, Volker [Contributor] LayTec AG In-situ-Kontrolle von Epitaxie und Plasmaprozessen für die Herstellung von UV-LEDs; Verbundvorhaben: "UV Power"; Teilprojekt 4 : Projekt-Abschlussbericht Zwanzig20 - Advanced UV for Life : Projektlaufzeit: 01.02.2017-30.09.2021 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: LayTec, [2021?]
Buick, Benjamin [Author]; Zettler, Johannes [Author]; Haberland, Kolja [Author] ; LayTec AG UV/vis/NIR-Reflektometrie für die in-situ-Überwachung der Epitaxie von UV-LEDs : Projekt-Abschlussbericht Zwanzig20 - advanced UV for life : Verbundvorhaben "UV-Reflekt" : Teilprojekt 1: "UV-vis-NIR in-situ Reflektometer" : Projektlaufzeit: 01.01.2016 bis 31.10.2018 = "UV-reflekt" - UV/VIS/NIR-reflectometer for in-situ monitoring of UV-LED epitaxial growth Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: LayTec AG, [2018?]
Prall, Christoph; Kaspari, Christian; Knauer, Arne; Haberland, Kolja; Weyers, Markus; Rueter, Dirk In-situ photoluminescence measurements during MOVPE of GaN andInGaN in a CCS reactor Articles View online Schließen > Access Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Walter de Gruyter GmbH, 2017 Published in: tm - Technisches Messen, 84 (2017) 11, Seite 747-752
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