Skip to contents Matthäus, Claudia [Author] EXTEST : ein regelbasiertes System zur Unterstützung des Entwurfs gut testbarer, digitaler, hochintegrierter Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: GMD, 1988 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 14000 Krüger-Sprengel, Bernhard [Author] Parametrische Analyse logischer Netzwerke für den Entwurf gut testbarer Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: Ges. für Mathematik u. Datenverarbeitung, 1988 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 14200 Grützner, Matthias [Author] Zum Test von grossflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1988 Lombardi, Fabrizio [Editor]; Sami, Mariagiovanna [Other] ; Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI 1987 Como Testing and diagnosis of VLSI and ULSI : proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI, Como, Italy, June 22 - July 3, 1987] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1988 Published in: NATO: NATO ASI series / E ; 151 Sachdev, Manoj [Author]; Pineda de Gyvez, José [Author] Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits - [2. ed.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dordrecht: Springer, 2007 Published in: Frontiers in electronic testing ; 34,2 Schubert, Andreas [Author] Modellierung, Optimierung und Selbsttest von kryptographischen virtuellen Komponenten - [Als Ms. gedr.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Düsseldorf: VDI-Verl., 2002 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 690 Williams, T. W. [Editor] VLSI testing Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1986 Published in: Advances in CAD for VLSI ; 5 Chowanetz, Michael [Author] Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1994 Wang, Laung-Terng [Editor]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Other] VLSI test principles and architectures : design for testability Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006 Published in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Wright, Stephen J. [Author] Primal-dual interior-point methods Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Philadelphia, Pa.: SIAM, Soc. for Industrial and Applied Mathematics, c 1997 Hellebrand, Sybille [Author] Synthese vollständig testbarer Schaltungen - [Als Ms. gedr.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Düsseldorf: VDI-Verl., 1991 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 177 Blum, Arnold [Author] Test-effizienter Entwurf von digitalen VLSI-Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1988 Stroud, Charles E. [Author] A designer's guide to built-in self-test Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, 2002 Published in: Frontiers in electronic testing ; 19 Wunderlich, Hans-Joachim [Author] Hochintegrierte Schaltungen : prüfgerechter Entwurf und Test ; mit 52 Tabellen Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1991 Wang, Laung-Terng [Editor]; Stroud, Charles E. [Other]; Touba, Nur A. [Other] System-on-chip test architectures : nanometer design for testability Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Morgan Kaufmann Publishers, 2008 Published in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Nicolici, Nicola [Author] ; Al-Hashimi, Bashir M. [Other] Power-constrained testing of VLSI circuits Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2003 Published in: Frontiers in electronic testing ; 22 Börger, Egon [Editor] Architecture design and validation methods Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2000 Hasan, Shehzad [Author] Test set compaction and diagnosis of crosstalk faults Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Aachen: Shaker, 2010 Published in: Berichte aus der Elektrotechnik Cheng, Kwang-Ting [Author]; Cheng, Kwang-Ting [Author]; Agrawal, Vishwani D. [Author] Unified methods for VLSI simulation and test generation Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Academic, 1989 Published in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 73 Vierhaus, Heinrich Theodor [Editor] ; Ariadne-Workshop 2 1992 Sankt Augustin 2. ARIADNE-Workshop : am 30./31.3.1992 in der GMD Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: Gesellschaft für Mathematik u. Datenverarbeitung, 1992 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 20600
Matthäus, Claudia [Author] EXTEST : ein regelbasiertes System zur Unterstützung des Entwurfs gut testbarer, digitaler, hochintegrierter Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: GMD, 1988 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 14000
Krüger-Sprengel, Bernhard [Author] Parametrische Analyse logischer Netzwerke für den Entwurf gut testbarer Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: Ges. für Mathematik u. Datenverarbeitung, 1988 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 14200
Grützner, Matthias [Author] Zum Test von grossflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1988
Lombardi, Fabrizio [Editor]; Sami, Mariagiovanna [Other] ; Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI 1987 Como Testing and diagnosis of VLSI and ULSI : proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI, Como, Italy, June 22 - July 3, 1987] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1988 Published in: NATO: NATO ASI series / E ; 151
Sachdev, Manoj [Author]; Pineda de Gyvez, José [Author] Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits - [2. ed.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dordrecht: Springer, 2007 Published in: Frontiers in electronic testing ; 34,2
Schubert, Andreas [Author] Modellierung, Optimierung und Selbsttest von kryptographischen virtuellen Komponenten - [Als Ms. gedr.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Düsseldorf: VDI-Verl., 2002 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 690
Williams, T. W. [Editor] VLSI testing Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1986 Published in: Advances in CAD for VLSI ; 5
Chowanetz, Michael [Author] Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1994
Wang, Laung-Terng [Editor]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Other] VLSI test principles and architectures : design for testability Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006 Published in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Wright, Stephen J. [Author] Primal-dual interior-point methods Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Philadelphia, Pa.: SIAM, Soc. for Industrial and Applied Mathematics, c 1997
Hellebrand, Sybille [Author] Synthese vollständig testbarer Schaltungen - [Als Ms. gedr.] Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Düsseldorf: VDI-Verl., 1991 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 177
Blum, Arnold [Author] Test-effizienter Entwurf von digitalen VLSI-Schaltungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. 1988
Stroud, Charles E. [Author] A designer's guide to built-in self-test Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, 2002 Published in: Frontiers in electronic testing ; 19
Wunderlich, Hans-Joachim [Author] Hochintegrierte Schaltungen : prüfgerechter Entwurf und Test ; mit 52 Tabellen Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1991
Wang, Laung-Terng [Editor]; Stroud, Charles E. [Other]; Touba, Nur A. [Other] System-on-chip test architectures : nanometer design for testability Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Morgan Kaufmann Publishers, 2008 Published in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Nicolici, Nicola [Author] ; Al-Hashimi, Bashir M. [Other] Power-constrained testing of VLSI circuits Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2003 Published in: Frontiers in electronic testing ; 22
Börger, Egon [Editor] Architecture design and validation methods Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2000
Hasan, Shehzad [Author] Test set compaction and diagnosis of crosstalk faults Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Aachen: Shaker, 2010 Published in: Berichte aus der Elektrotechnik
Cheng, Kwang-Ting [Author]; Cheng, Kwang-Ting [Author]; Agrawal, Vishwani D. [Author] Unified methods for VLSI simulation and test generation Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston [u.a.]: Kluwer Academic, 1989 Published in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 73
Vierhaus, Heinrich Theodor [Editor] ; Ariadne-Workshop 2 1992 Sankt Augustin 2. ARIADNE-Workshop : am 30./31.3.1992 in der GMD Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Sankt Augustin: Gesellschaft für Mathematik u. Datenverarbeitung, 1992 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 20600
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