Media type: Book Title: VLSI test principles and architectures : design for testability Contributor: Wang, Laung-Terng [Hrsg.]; Wu, Cheng-Wen EE Ph. D [Other] imprint: Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2006 Published in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Extent: XXX, 777 S; Ill., graph. Darst Language: English ISBN: 0123705975; 9780123705976 RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente ZN 4950 : Schaltungen der Grossintegration (LSI) Keywords: VLSI VLSI > Testen Origination: Footnote: Includes bibliographical references and index Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4030 W246 Item ID: 31425513 Status: Loanable