Media type: Book Title: Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Contributor: Hübner, Uwe [Author] Published: Sankt Augustin: Gesellsch. f. Mathem. u. Datenverarb., 1989 Published in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 17400 Extent: 161, [121] S; graph. Darst Language: German ISBN: 3884571745 RVK notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) Keywords: CMOS-Schaltung Origination: Footnote: Mit engl. Zsfassung. - Literaturverz. S. 155 - 156
Departmental Library DrePunct – stack Shelf-mark: 0990 00938 001 Item ID: 32541219 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Delivery expected: 1 - 2 days after order