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Medientyp: Buch Titel: Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Beteiligte: Hübner, Uwe [VerfasserIn] Erschienen: Sankt Augustin: Gesellsch. f. Mathem. u. Datenverarb., 1989 Erschienen in: Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: GMD-Studien ; 17400 Umfang: 161, [121] S; graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 3884571745 RVK-Notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) Schlagwörter: CMOS-Schaltung Entstehung: Anmerkungen: Mit engl. Zsfassung. - Literaturverz. S. 155 - 156 Weitere Bestandsnachweise 0 : Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung <Sankt Augustin>: GMD-Studien
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 0990 00938 001 Barcode: 32541219 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden