Media type: Book Title: Electromigration and electronic device degradation Contributor: Christou, Aris [Hrsg.] imprint: New York, NY [u.a.]: Wiley, 1994 Extent: XIV, 343 S; Ill., graph. Darst; 25 cm Language: English ISBN: 0471584894 RVK notation: ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Keywords: Elektromigration > Halbleiterschaltung > Schädigung Origination: Footnote: Literaturangaben
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4040 C556 Item ID: 32988602 Status: Loanable