Media type: Book; Thesis Title: Hierarchical test pattern generation and untestability identification techniques for synchronous sequential circuits Other titles: Parallelt.: Hierarhilised testintegreerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele Contributor: Rannaste, Anna [Author] imprint: Tallinn: TUT Press, 2010 Published in: Thesis on informatics and system engineering / C ; 58 Extent: 127 S.; graph. Darst Language: English ISBN: 9789949230419 RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Keywords: Hochschulschrift Origination: University thesis: Zugl.: Tallinn, Techn. Univ., Diss., 2010 Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4030 R211 Item ID: 32900098 Status: Loanable