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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Hierarchical test pattern generation and untestability identification techniques for synchronous sequential circuits Weitere Titel: Parallelt.: Hierarhilised testintegreerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele Beteiligte: Rannaste, Anna [VerfasserIn] Erschienen: Tallinn: TUT Press, 2010 Erschienen in: Thesis on informatics and system engineering / C ; 58 Umfang: 127 S.; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 9789949230419 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Tallinn, Techn. Univ., Diss., 2010 Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Thesis on informatics and system engineering / C