Media type: Book Title: Defect and microstructure analysis by diffraction Contributor: Snyder, Robert L. [Other]; Fiala, Jaroslav [Other]; Bunge, Hans J. [Other] Corporation: International Union of Crystallography imprint: Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1999 Published in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10 Issue: 1. publ. Extent: XXII, 785 S.; graph. Darst Language: English ISBN: 0198501897 RVK notation: UQ 5600 : Röntgenspektroskopie, -mikroskopie, Röntgenfluoreszenzspektroskopie und Analyse Keywords: Kristall > Gitterbaufehler > Röntgendiffraktometrie Diffraktometrie > Gitterbaufehler Röntgenstrukturanalyse Origination: Footnote: Includes bibliographical references and index
Central Library Shelf-mark: UQ 5600 S675 Item ID: 30635384 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Halbleiterphysik erfragen.