Media type: Book Title: Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Contributor: Goldstein, Joseph I. [Other] imprint: New York [u.a.]: Springer, 2007 Issue: 3. ed., corr. print. Extent: XIX, 690 S., [3] Bl; Ill., graph. Darst; CD-ROM Beil Language: English ISBN: 9780306472923 RVK notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Keywords: Rasterelektronenmikroskopie Elektronenstrahlmikroanalyse Elektronenstrahlmikroanalyse > Werkstoff Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie Origination: Footnote: Includes bibliographical references and index
Bestand der TU Dresden Shelf-mark: 2013 4 014499 Item ID: 11791430N Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Botanik erfragen.