Media type: Book Title: Thermal testing of integrated circuits Contains: Includes bibliographical references and index Contributor: Altet, Josep [Author]; Rubio, Antonio [Author] imprint: Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2002 Extent: XIV, 204 S.; graph. Darst Language: English ISBN: 1402070764 RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Keywords: Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Testen Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Testen Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Funktionstest Origination: Footnote: Includes bibliographical references
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4030 A466 Item ID: 31461670 Status: Loanable