Media type: Book Title: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen Contributor: Grasserbauer, Manfred [VerfasserIn]; Dudek, Hans J. [VerfasserIn]; Ebel, Maria F. [VerfasserIn] imprint: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986 Extent: VIII, 300 Seiten; Illustrationen; 25 cm Language: German ISBN: 3540150501; 0387150501 RVK notation: ZM 7605 : Oberflächenanalyse UP 7500 : Allgemeines Keywords: Sekundärionen-Massenspektrometrie Auger-Spektroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Origination: Footnote: Literaturangaben
Central Library – stack Shelf-mark: 0587 00035 001 Item ID: 30677046 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Orders received from Mon - Fri by 1 pm are expected to be ready for you on the same day.