Media type: Book; Thesis Title: Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen Contributor: Fritz, Joachim [Author] imprint: Heidelberg: Hüthig, 1990 Published in: Mikroelektronik ; 700 Extent: XVIII, 228 S; Ill., graph. Darst Language: German ISBN: 3778519948 RVK notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Keywords: CMOS-Schaltung > Prüfung > Elektrooptischer Effekt > Laser-Rastermikroskop Origination: University thesis: Zugl.: Duisburg, Univ.-Gesamthochsch., Diss., 1990 u.d.T.: Fritz, Joachim: Untersuchung und Einsatz elektro-optischer Effekte zum Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen Footnote:
Departmental Library DrePunct – stack Shelf-mark: 0992 01281 001 Item ID: 30599969 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Delivery expected: 1 - 2 days after order