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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen Beteiligte: Fritz, Joachim [Verfasser:in] Erschienen: Heidelberg: Hüthig, 1990 Erschienen in: Mikroelektronik ; 700 Umfang: XVIII, 228 S; Ill., graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 3778519948 RVK-Notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: CMOS-Schaltung > Prüfung > Elektrooptischer Effekt > Laser-Rastermikroskop Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Duisburg, Univ.-Gesamthochsch., Diss., 1990 u.d.T.: Fritz, Joachim: Untersuchung und Einsatz elektro-optischer Effekte zum Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Mikroelektronik
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 0992 01281 001 Barcode: 30599969 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung