Media type: Book; Thesis Title: Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Contributor: Hess, Christopher [Author] Published: Düsseldorf: VDI-Verlag, 1998 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 278 Issue: Als Ms. gedr Extent: XI, 202 S.; Ill., graph. Darst; Ill., graph. Darst Language: German ISBN: 318327809X RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Keywords: Halbleitertechnologie > Fehlerortung > Elektrische Messung > Integrierte Schaltung > CAT > Entwurfsautomation Origination: University thesis: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998 Footnote: Literaturverz. S. 191 - 202
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 1701-278 Item ID: 10086238 Status: Loanable