Media type: Book; Thesis Title: Single stress safe operating area of DMOS transistors integrated in smart power technologies Contributor: Denison, Marie [Author] imprint: Aachen: Shaker, 2005 Published in: Berichte aus der Elektrotechnik Extent: XXIV, 134 S; Ill., graph. Darst; 21 cm Language: English ISBN: 3832241914 RVK notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) Keywords: Smart-power-Bauelement > DMOS-FET > Thermodynamische Eigenschaft > Elektrische Eigenschaft > Durchschlagspannung > Netzwerksimulation Origination: University thesis: Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2004 Footnote: Zsfassung in dt. Sprache
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4960 D396 Item ID: 31445972 Status: Loanable