Media type: Book Title: Atomic force microscopy Contains: Introduction -- AFM instrumentation -- AMF modes -- Measuring AFM images -- AFM image processing and analysis -- AFM image artefacts -- Applications of AFM. Contributor: Eaton, Peter [Author]; West, Paul [Other] imprint: Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, c 2010 Extent: VIII, 248 S.; Ill., graph. Darst; 26 cm Language: English ISBN: 0199570450; 9780199570454 RVK notation: UH 6320 : Rastersondenmikroskopie allgemein Keywords: Rasterkraftmikroskopie Origination: Footnote: Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Bestand der TU Dresden Shelf-mark: 2015 4 000304 Item ID: 11863676N Status: Verfügbarkeit bitte in Center Advancing Electronics Dresden CfAED erfragen.