Media type: E-Book; Thesis Title: Elektrische Charakterisierung Bauelement-relevanter Defekte in 3C- und 4H-Siliziumkarbid Contributor: Zippelius, Bernd [Author] Extent: Online-Ressource Language: German Identifier: Keywords: Siliciumcarbid ; Hall-Effekt ; DLTS ; n-Kanal-FET ; PN-Diode ; Tiefe Störstelle ; Halbleitergrenzfläche ; Gitterbaufehler ; Hochschulschrift Origination: University thesis: Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2011 Footnote: Access State: Open Access