Media type: E-Book; Thesis Title: On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond Other titles: On-Wafer Kalibriermethoden zur präzisen Charakterisierung von High-Performance Silizium-Bauelementen im mm-Wellen Bereich und darüber Contributor: Rumiantsev, Andrej [Author]; Rudolph, Matthias [Degree supervisor] Published: Cottbus: Universitätsbibliothek der BTU Cottbus, 2014 Extent: Online-Ressource Language: English Identifier: Keywords: S-Parameter ; On-Wafer Charakterisierung ; On-Wafer Kalibriermethoden ; BiCMOS ; CMOS S-parameters ; On-wafer characterization ; On-wafer calibration ; CMOS ; Hochschulschrift Origination: University thesis: Cottbus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus, Diss., 2014 Footnote: Access State: Open Access