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Düsterhöft, Heinz [VerfasserIn]; Riedel, Miklos [VerfasserIn]; Düsterhöft, Bettina-Kirsten [VerfasserIn]

Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- : mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang

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Stuttgart; Leipzig: Teubner, 1999

Erschienen in: Teubner-Studienbücher ; Physik
Practical surface analysis / 2, Ion and neutral spectroscopy - [2. ed.]

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Chichester: Wiley, 1992

Erschienen in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 2,2
Götz, Gerhard [HerausgeberIn]

High energy ion beam analysis of solids

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Berlin: Akademie-Verl., 1988

Erschienen in: Physical research ; 6
Mai, Hermann [VerfasserIn] ; Akademie der Wissenschaften der DDR

Investigation of the sampling volume in secondary ion microanalysis : phenomenological considerations about the interaction between oxygen primary ions and the solid specimen - [als Manuskr. gedr.]

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Dresden: Zentralinst. für Festkörperphysik u. Werkstofforschung, 1986

Erschienen in: Zentralinstitut für Festkörperphysik und Werkstofforschung: Wissenschaftliche Berichte ; 33
Prigge, Stefan [VerfasserIn]

Untersuchungen zum Sekundärionenemissionsmechanismus

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1983
Bünau, Günther von [VerfasserIn]; Kloeppel, Klaus-Dieter [VerfasserIn]

Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse

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Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981

Erschienen in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049
Handbook of nanoscopy / 2

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Weinheim: Wiley-VCH, 2012

Erschienen in: Handbook of nanoscopy / ed. by Gustaaf Van Tendeloo ... ; 2
Brümmer, Otto [HerausgeberIn]; Berg, Uta [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [2., durchges. Aufl.]

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Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, [1980]
Brümmer, Otto [HerausgeberIn]

Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden - [1. Aufl.]

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Leipzig: Dt. Verl. für Grundstoffindustrie, [19]78
Bieringer, Peter [VerfasserIn]

Stöchiometrieuntersuchungen von Schichtsystemen für die Nanoelektronik

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2000
Briggs, David [VerfasserIn]; Brown, Alan [VerfasserIn]; Vickerman, John C. [VerfasserIn]

Handbook of static secondary ion mass spectrometry

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1989
Wilson, Robert G. [VerfasserIn]; Stevie, Fred A. [VerfasserIn]; Magee, Charles W. [VerfasserIn]

Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis

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New York [u.a.]: Wiley, 1989

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Benninghoven, Alfred [VerfasserIn]; Rüdenauer, F. G. [VerfasserIn]; Werner, H. W. [VerfasserIn]

Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

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New York, NY [u.a.]: Wiley, 1987

Erschienen in: Chemical analysis ; 86
Vickerman, John C. [HerausgeberIn]

Secondary ion mass spectrometry : principles and applications

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Oxford [u.a.]: Clarendon Press, 1989

Erschienen in: International series of monographs on chemistry ; 1700
Grasserbauer, Manfred [VerfasserIn]; Dudek, Hans J. [VerfasserIn]; Ebel, Maria F. [VerfasserIn] ; Dudek, Hans Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen

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Berlin: Akad.-Verl., 1986
Mahoney, Christine M. [HerausgeberIn]

Cluster secondary ion mass spectrometry : principles and applications

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Hoboken, NJ: Wiley, 2013

Erschienen in: Wiley series on mass spectrometry
Fuchs, Ekkehard [VerfasserIn]; Oppolzer, Helmut [VerfasserIn]; Rehme, Hans [VerfasserIn]

Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications

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Weinheim [u.a.]: VCH, 1990
Mazilu, Irina [VerfasserIn]

Einkristallzüchtung und Konstitutionsuntersuchungen von magnetisch geordneten Seltenerd-Übergangsmetallverbindungen

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Berlin: Uni-Edition, 2007
Greiser, Jens [VerfasserIn]

Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten

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Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999

Erschienen in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 83
Czanderna, Alvin W. [HerausgeberIn]; Hercules, David M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Ion spectroscopies for surface analysis

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1991

Erschienen in: Methods of surface characterization ; 2

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