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Medientyp: Buch Titel: Introduction to advanced system on chip test design and optimization Beteiligte: Larsson, Erik [Verfasser:in] Erschienen: Dordrecht: Springer, 2005 Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 29 Umfang: XV, 388 S.; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 1402032072; 9781402032073 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: System-on-Chip > Testen Integrierte Schaltung > Schaltungsentwurf System-on-Chip > Integrierte Schaltung > Fehlererkennung > Testen Entstehung: Anmerkungen: Includes bibliographical references and index Weitere Bestandsnachweise 0 : Frontiers in electronic testing