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Medientyp: Buch Titel: Fault tolerance techniques for SRAM based FPGAs Enthält: Literaturverz. S. 175 - 183 Beteiligte: Kastensmidt, Fernanda Lima [VerfasserIn]; Carro, Luigi [VerfasserIn]; Reis, Ricardo [VerfasserIn] Erschienen: Dordrecht: Springer, 2006 Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 32 Umfang: XV, 183 S.; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 038731069X; 9780387310695; 0387310681; 9780387310688 RVK-Notation: ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte ZN 4950 : Schaltungen der Grossintegration (LSI) Schlagwörter: Integrierte Schaltung > Fehlertoleranz Fehlertoleranz > Field programmable gate array Integrierte Schaltung > Fehlertoleranz Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Frontiers in electronic testing