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Medientyp: Buch Titel: Methods of measurement for semiconductor materials, process control and devices : quarterly report; July 1 to Sept. 30, 1971 Beteiligte: Bullis, W. Murray [Hrsg.] Erschienen: Washington: National Bureau of Standards, 1972 Erschienen in: USA: National Bureau of Standards technical note ; 717 Umfang: VI, 48 S. Sprache: Englisch Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : United States / National Bureau of Standards: National Bureau of Standards technical note
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 74 3 00451 000 01 0 1 Barcode: 10723953N Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.