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Medientyp: E-Book Titel: Occurrence of Sharp Hydrogen Effusion Peaks of Hydrogenated Amorphous Silicon Film and Its Connection to Void Structures Beteiligte: Jafari, Sahar [Verfasser:in]; Steffens, Jonathan [Verfasser:in]; Wendt, Michael [Verfasser:in]; Terheiden, Barbara [Verfasser:in]; Meyer, Sylke [Verfasser:in]; Lausch, Dominik [Verfasser:in] Erschienen: Konstanz: KOPS Universität Konstanz, 2020 Umfang: 1 Online-Ressource Sprache: Englisch Identifikator: Entstehung: Anmerkungen: In: Physica Status Solidi (B) - Basic Solid State Physics ; 257 (2020), 9. - 2000097. - Wiley. - ISSN 0370-1972. - eISSN 1521-3951 Zugangsstatus: Freier Zugang