> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: Applied Optical Metrology V : 22-23 August 2023, San Diego, California, United States Beteiligte: Novak, Erik [HerausgeberIn]; Wilcox, Christopher C. [HerausgeberIn] Körperschaft: SPIE Erschienen: Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2023] Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 12672 Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen Sprache: Englisch ISBN: 9781510665590 Schlagwörter: Optische Messtechnik Entstehung: Anmerkungen: Teilkonferenz von SPIE Optical Engineering + Applications 2023 im Rahmen von SPIE Optics + Photonics 2023 Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge Literaturangaben