Beckert, Erik
[VerfasserIn];
Ullrich, Michael
[VerfasserIn];
Spiess, Christopher
[VerfasserIn]
;
Jetter, Michael
[MitwirkendeR];
Hein, Matthias
[MitwirkendeR];
Müller, Jens
[MitwirkendeR]
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik,
Universität Stuttgart Institut für Halbleiteroptik und Funktionelle Grenzflächen,
Technische Universität Ilmenau Fachgebiet Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik,
Technische Universität Ilmenau Fachgebiet Elektroniktechnologie