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Medientyp: Buch Titel: Failure mechanisms in semiconductor devices Beteiligte: Amerasekera, Ajith [Verfasser:in]; Amerasekera, E. Ajith [Verfasser:in]; Najm, Farid N. [Verfasser:in] Erschienen: Chichester [u.a.]: Wiley, 1997 Ausgabe: 2. ed. Umfang: XII, 345 S; Ill., graph. Darst; 24 cm Sprache: Englisch ISBN: 0471954829 RVK-Notation: ZN 4800 : Allgemeines ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Schlagwörter: Halbleiterbauelement Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben
Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand Signatur: ZN 4040 A512(2) Barcode: 10362733 Status: Ausleihbar