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Seeck, O. H. [VerfasserIn]; Kaendler, I. D. [VerfasserIn]; Sinha, S. K. [VerfasserIn]; Tolan, M. [VerfasserIn]; Shin, K. [VerfasserIn]; Rafailovich, M. H. [VerfasserIn]; Sokolov, J. [VerfasserIn]; Kolb, R. [VerfasserIn]

Analysis of X-ray reflectivity data from low-contrast polymer bilayers using a Fourier method

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Analysis of X-ray reflectivity data from low-contrast polymer bilayers using a Fourier method
  • Beteiligte: Seeck, O. H. [VerfasserIn]; Kaendler, I. D. [VerfasserIn]; Sinha, S. K. [VerfasserIn]; Tolan, M. [VerfasserIn]; Shin, K. [VerfasserIn]; Rafailovich, M. H. [VerfasserIn]; Sokolov, J. [VerfasserIn]; Kolb, R. [VerfasserIn]
  • Erschienen: American Institute of Physics, 2000
  • Erschienen in: Applied physics letters 76, 2713 - 2715 (2000).
  • Sprache: Englisch
  • ISSN: 0003-6951
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang