• Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Atomic-scale quantification of charge densities in two-dimensional materials
  • Beteiligte: Müller-Caspary, Knut [VerfasserIn]; Duchamp, Martial [VerfasserIn]; Soltau, Heike [VerfasserIn]; Wehling, Tim [VerfasserIn]; Dunin-Borkowski, Rafal [VerfasserIn]; Van Aert, Sandra [VerfasserIn]; Rosenauer, Andreas [VerfasserIn]; Rösner, Malte [VerfasserIn]; Migunov, Vadim [VerfasserIn]; Winkler, Florian [VerfasserIn]; Yang, Hao [VerfasserIn]; Huth, Martin [VerfasserIn]; Ritz, Robert [VerfasserIn]; Simson, Martin [VerfasserIn]; Ihle, Sebastian [VerfasserIn]
  • Erschienen: Inst., 2018
  • Erschienen in: Physical review / B 98(12), 121408 (2018). doi:10.1103/PhysRevB.98.121408
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.98.121408
  • ISSN: 1094-1622; 0556-2805; 1550-235X; 1098-0121; 0163-1829; 1095-3795; 2469-9969; 2469-9950
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Beschreibung: The charge density is among the most fundamental solid state properties determining bonding, electrical characteristics, and adsorption or catalysis at surfaces. While atomic-scale charge densities have as yet been retrieved by solid state theory, we demonstrate both charge density and electric field mapping across a mono-/bilayer boundary in 2D MoS2 by momentum-resolved scanning transmission electron microscopy. Based on consistency of the four-dimensional experimental data, statistical parameter estimation and dynamical electron scattering simulations using strain-relaxed supercells, we are able to identify an AA-type bilayer stacking and charge depletion at the Mo-terminated layer edge.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang