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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: AlGaN/GaN HEMTs Reliability: Degradation Modes and Analysis Weitere Titel: AlGaN/GaN HEMTs Zuverlässigkeit: Degradationsmodi und Analyse Beteiligte: Ivo, Ponky [Verfasser]; Tränkle, Günther [Akademischer Betreuer] Erschienen: Berlin: Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin, 2012 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch Identifikator: Schlagwörter: AlGaN/GaN HEMTs ; Degradation ; DC-Stufenstresstests ; Robustheit AlGaN/GaN HEMTs ; DC-Step-Stress tests ; Robustness ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Berlin, Technische Universtität Berlin, Diss., 2012 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang